XUV/EUV/VUV光譜儀

XUV/EUV/VUV光譜儀

EasyLIGHT XUV 光譜儀在極遠(yuǎn)紫外和真空紫外光譜區(qū)域通過(guò)像差校正，可實(shí)現(xiàn)寬波段光譜測(cè)量。其無(wú)狹縫設(shè)計(jì)，可直接對(duì)輻射源成像，省去了傳統(tǒng)入口狹縫的繁瑣調(diào)整。光譜覆蓋范圍為30至250 nm，適合高次諧波（HHG）及等離子體診斷等多種應(yīng)用需求。采用正入射結(jié)構(gòu)，easyLIGHT XUV 在安裝與準(zhǔn)直方面遠(yuǎn)優(yōu)于掠入射光譜儀，操作更為簡(jiǎn)便。XUV/EUV/VUV光譜儀

模塊化設(shè)計(jì)可適配多種實(shí)驗(yàn)布局與配置；easyLIGHT 內(nèi)置狹縫支架，并配備閉環(huán) motorized 光柵定位系統(tǒng)。

內(nèi)置探測(cè)器可選方案包括：用于高分辨率和動(dòng)態(tài)范圍的XUV ccd；用于寬譜范圍覆蓋及門控/增強(qiáng)探測(cè)的MCP/cmos組件。

光譜儀設(shè)計(jì)采用“光源直接成像"原理，無(wú)需狹窄入口狹縫即可實(shí)現(xiàn)較高的光收集效率。與傳統(tǒng)光譜儀結(jié)構(gòu)相比，進(jìn)入探測(cè)器的光通量提高 20 倍，同時(shí)顯著提升日常運(yùn)行的穩(wěn)定性與可靠性。

光譜儀的特點(diǎn)：

●   平場(chǎng)正入射光譜儀

●   無(wú)狹縫設(shè)計(jì)，光耦合效率高

●   波長(zhǎng)范圍覆蓋 30–250 nm

●   同等性能上結(jié)構(gòu)更緊湊

●   模塊化、交鑰匙解決方案

光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域：

●   高次諧波（HHG）光源

●   阿秒科學(xué)

●   強(qiáng)激光-物質(zhì)相互作用

●   激光與放電等離子體光源

●   同步輻射束線表征

●   自由電子激光

* 另外，可根據(jù)客戶要求提供訂制，詳情可咨詢上海昊量光電設(shè)備有限公司。

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