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Product catalog

光學部件

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方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS)
方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS)適用于亞毫米級樣品的綜合熱物性測量，能夠同時測量各向同性材料的熱導率和比熱容、三維各向異性熱導率張量，以及半導體異質(zhì)結(jié)構(gòu)的薄膜熱導率、比熱容和界面熱阻。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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相位偏折測量系統(tǒng)
相位偏折測量系統(tǒng)相位偏折術(shù)或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術(shù),絕對檢測精度可達10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測。具有測量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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光譜透過率測量系統(tǒng)
光譜透過率測量系統(tǒng):AUT GPS-200推出的?套光譜透過率測試系統(tǒng)，通過光譜儀與均勻光源組成透過率測量系統(tǒng)，幫助客戶對光學玻璃、濾光?、膜層、顯示屏（OLED、LCD等）、AR/VR透鏡、油墨、染料、?質(zhì)等進?光譜透過率的測量。

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光學視角檢測儀—顯示測量
光學視角檢測儀—顯示測量，ELDIM制造基于傅里葉光學的光學視角檢測儀已經(jīng)超過25年了。基于*的光學設(shè)計，可以控制系統(tǒng)的角孔徑與測量光斑大小相獨立，可以實現(xiàn)非常高的光收集效率，超大掠射角(88°)的測量也具有很高的精度。

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Mprobe 20 薄膜測量系統(tǒng) （單點測量）
Mprobe 20 薄膜測量系統(tǒng) （單點測量）是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需點擊鼠標薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm.

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光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng)
光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù)，主要用于精確測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率，測量精度可達百萬分之一量級！光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng)

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