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激光測量設(shè)備

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高性價比干涉式激光尺
高性價比干涉式激光尺摒棄了傳統(tǒng)激光干涉儀的分立光學(xué)器件結(jié)構(gòu)，將激光器、調(diào)制器、光電探測器和濾波器等眾多光學(xué)元件集成至單一光學(xué)芯片上，并與激光二極管、探測器陣列和光學(xué)透鏡結(jié)合，形成小型化的激光傳感模組。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
Heliotis H9/H9M 均為工業(yè)級白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級相干峰 / 相位解包裹重構(gòu) 3D 形貌，實(shí)現(xiàn)非接觸、納米級精度測量。H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀

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IQFROG超短脈沖分析儀
IQFROG超短脈沖分析儀（高靈敏性，光纖耦合輸入）是基于頻率分辨光學(xué)開關(guān)技術(shù)（FROG）實(shí)現(xiàn)對脈沖激光在時域和頻域的強(qiáng)度和相位測量，從而實(shí)現(xiàn)對脈沖激光信號的精確表征。IQFROG超短脈沖測量儀配有大形成電動延時平臺和高分辨率光譜儀，可實(shí)現(xiàn)up to 50ps脈寬的啁啾脈沖測量;對于傅里葉極限脈寬，其脈寬可測范圍能覆蓋0.3-10ps。

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TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec GmbH提供完整的光學(xué)表面計(jì)量解決方案，用于工程表面質(zhì)量檢測和形狀評估 - 無論是數(shù)控加工精密零件的平面度或臺階高度、光滑光學(xué)元件的翹曲和形狀，還是紋理、光潔度或 MEMS 和微結(jié)構(gòu)分析。TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）

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TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Metro.Lab 形貌測量系統(tǒng)在針對大面積表面及結(jié)構(gòu)的平面度、臺階高度和平行度進(jìn)行非接觸式測量時表現(xiàn)好，哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料，也能精準(zhǔn)探測，毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）

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新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）
一般的便攜式色彩測量儀器通常能滿足大多數(shù)要求，但其性能往往參次不齊。獨(dú)立式分光光度儀已成為昨日黃花，既無法您進(jìn)入色彩測量的未來，也不能確保質(zhì)量，但全新新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）的亮相令人為之側(cè)目。

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SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS
SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS用于需要同時獲取運(yùn)動角度和長度信息的測量任務(wù)。該干涉儀的測量原理基于 SP 5000 NG 測量設(shè)備。兩個測量激光束使用同一頻率的共用激光器的光。兩個測量光束之間的間距經(jīng)過高精度校準(zhǔn)。測量光束之間的平行度至關(guān)重要。

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表面增強(qiáng)拉曼散射SERS襯底/基底
昊量光電新推出用于超靈敏分子檢測用的表面增強(qiáng)拉曼散射SERS襯底/基底SERStrate ，實(shí)現(xiàn)低至 pm濃度的超靈敏分子檢測。能夠?qū)纳茖W(xué)到軍事應(yīng)用的各種分子進(jìn)行痕量檢測。大多數(shù)器件制造技術(shù)涉及聚合物掩膜沉積（某種形式的光刻）或復(fù)雜的化學(xué)，這大大增加了器件制造成本。

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447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器
447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器，IDOL 系列產(chǎn)生特殊的1342nm 波長及其倍頻（671nm）、三倍頻（447nm），其中1342nm 特別適合硅材料處理如隱形劃片、集成電路修剪，而671nm、447nm則在顯示平板修補(bǔ)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

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213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列）
213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列），可用于FBG 刻蝕、鉆石及藍(lán)寶石打標(biāo)加工等應(yīng)用，213nm 波長及TEM00 模式使它可以用于小于微米的直寫加工。

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193nmDUV深紫外單縱模固體激光器
193nmDUV深紫外單縱模固體激光器，光譜帶寬接近其理論傅立葉極限。該193nm激光器的中心波長可在185和194 nm之間的范圍內(nèi)定制，訂購時可配置為固定波長。

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VFI 光纖端面干涉儀
VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產(chǎn)和質(zhì)量保證領(lǐng)域已得到反復(fù)驗(yàn)證。

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